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技術文章
HL8001系列zeta電位分析儀
常見的幾種測試電位方法：
1.電泳光散射法：常見的測試zeta電位的方法是利用光學法，也就是電泳光散射法，由于此方法可以和動態(tài)光散射法相結合，隨著納米粒度及zeta電位儀的市場擴大，而這種方法被廣大客戶接受。此方法的特點有：樣品必須要進行稀釋后測試；不同濃度對測試結果影響比較大；測試結果重復性較差，一般在±10mv以內(nèi)；
2.超聲電聲法電聲法不是采用光學方法，而是采用聲波信號，因此設備有聲波的優(yōu)勢。穿透力強，可以進行原液測試。原液測試樣品的zeta電位時和稀釋后測試結果會不一樣，因為原液時顆粒的雙電層被壓縮。此方法優(yōu)勢有：樣品無需稀釋，原液進行測試分析樣品的粒徑和zeta電位值，更加準確表征樣品本身狀態(tài)。測試結果重復性比較好。一般在±0.3mv以內(nèi)?？梢詼y試微觀參數(shù)，如德拜長度，杜坎數(shù)，雙電層的面電荷密度等。
3.流動電位法：以上兩種方法主要是測試液體的zeta電位，有很多客戶需要測試固體表面的zeta電位，中空纖維內(nèi)部的zeta電位，膜表面的zeta電位等，此時即需要流動法來進行測試。即在樣品池中加入樣品，在一定壓力梯度下將緩沖液推入樣品池，緩沖液會帶動樣品表面的電荷流向樣品池兩邊的電極，測試得到電壓值。
4.微電泳法：微電泳法測試zeta電位，前端兩側(cè)為四個電極，進行正向和反向加電場，*上方為ccd相機，進行對運動的帶電粒子做視頻跟蹤，得到信號，從而得到每一個顆粒的遷移率，計算得到每個顆粒的zeta電位，從而得到zeta電位的分布。
zeta電位儀測試的重要性及原理：
zeta電位是對顆粒間的靜電、電荷排斥/吸引強度的度量，是影響穩(wěn)定性的基本參數(shù)之一。通過測量可詳細了解分散、凝聚或聚團的原因，還可改善分散劑、乳化劑及懸浮劑的配方。
zeta電位可用來作為膠體體系穩(wěn)定性的指標，如果顆粒帶有很多正的或者負的電荷，它們就會相互排斥，從而達到整個體系的穩(wěn)定性。相反，如果顆粒帶有很少正的或者負的電荷，它們就會相互吸引，從而達到整個體系的不穩(wěn)定性。一般來說，zeta電位愈高，顆粒的分散體系愈穩(wěn)定，水相中顆粒分散穩(wěn)定性的分界線一般認為在+30mV或-30mV，如果所有顆粒都帶有高于+30mV或低于-30mV，則該分散體系應該比較穩(wěn)定。
zeta電位是納米材料的一種重要表征參數(shù)?，F(xiàn)代儀器可以通過簡便的手段快速準確地測得。大致原理為：通過電化學原理將測量轉(zhuǎn)化成帶電粒子淌度的測量，而粒子淌度的測量測是通過動態(tài)光散射，運用波的多普勒效應測得。
zeta電位儀可用于測定分散體系顆粒物的固-液界面電性(ζ電位)，也可用于測量乳狀液液滴的界面電性，也可用于測定等電點、研究界面反應過程的機理。通過測定粉體的Zeta電位，從pH-Zeta電位關系圖上求出等電點，是認識粉體表面電性的重要方法，在粉體表面處理中也是重要的手段。與*內(nèi)外其它同類型儀器相比，它具有顯著的*性。
zeta電位儀應用行業(yè)：
1.半導體：研究半導體晶體表面殘留雜質(zhì)與磨蝕劑、添加劑和晶片表面之間的相互影響的凈化機制。
2.醫(yī)藥和食品行業(yè)：乳劑的分散和凝聚的模擬控制研究(如食品、香水、藥品和化妝品)，蛋白質(zhì)功能研究，核糖體分散和凝聚控制研究，表面活性劑功能研究(微囊)。
3.陶瓷和顏料工業(yè)：表面重整控制研究、分散和凝聚陶瓷(矽土、氧化鋁、二氧化鈦等)和無機溶膠的研究，顏料的分散和凝聚的控制研究，浮礦收集器的吸附研究。
4.聚合物和化工領域：乳劑(涂料和粘合劑)的分散和凝聚控制研究，乳膠表面重整控制(藥品和工業(yè)用途)。
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